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학술저널
저자정보
구은혜 (경북대학교) 박길흠 (경북대학교) 이종학 (대구카톨릭대학교) 류강수 (구미대학교) 김정준 (경북대학교)
저널정보
한국멀티미디어학회 멀티미디어학회논문지 멀티미디어학회논문지 제18권 제12호
발행연도
2015.12
수록면
1,519 - 1,527 (9page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2016

TFT-LCD 영상에서 히스토그램 비대칭도와 가우시안 혼합 모델을 이용한 결함 검출
구은혜 전자공학부 2016.01 학위논문

2015

히스토그램 분포 모델링 기반 TFT-LCD 결함 검출
구은혜 ,  박길흠 ,  이종학 외 2명 멀티미디어학회논문지 2015.12 학술저널

초록· 키워드

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TFT-LCD automatic defect inspection system for detecting defects in place of the visual tester does pre-processing, candidate defect pixel detection, and recognition and classification through a blob analysis. An over-detection result of defects acts as an undue burden of blob analysis for recognition and classification. In this paper, we propose defect detection method based on the histogram distribution modeling of TFT-LCD image to minimize over-detection of candidate defective pixels. Primary defect candidate pixels are detected estimating the skewness of the luminance distribution histogram of the background pixels. Based on the detected defect pixels, the defective pixels other than noise pixels are detected using the distribution histogram model of the local area. Experimental results confirm that the proposed method shows an excellent defect detection result on the image containing the various types of defects and the reduction of the degree of over-detection as well.
#Histogram #Distribution Modeling #Defect Detection #Skewness #Local Region

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. TFT-LCD 영상 특성 및 STD 결함 검출 기법
3. 제안한 히스토그램 분포 추정을 이용한 결함 검출 기법
4. 실험결과 및 고찰
5. 결론
REFERENCE

참고문헌 (15)

참고문헌 신청
[학술대회논문] - L. E. Tannas / 1994 / Evolution of Flat Panel Displays / Proceedings of the IEEE 82 (4) : 499 ~ 509 google schola [학술대회논문] - S. J. Lalama / 1994 / Flat Panel Display Manufacturing Overview / Proceedings of IEMT Symposium 1 : 185 ~ 190 google schola [학술대회논문] - J. Jang / 2002 / Technology Development and Production of Flat Panel Displays in Korea / Proceedings of the IEEE 90 (4) : 501 ~ 513 google schola [학술지(정기간행물)] - 노충호 / 2010 / 명암도 분포 및 형태 분석을 이용한 효과적인 TFT-LCD 필름 결함 영상 분류 기법 / 멀티미디어학회논문지 13 (8) : 1115 ~ 1127 dbpia [학술지(정기간행물)] - Y. H. Liu / 2009 / Automatic Target Defect Identification for TFT-LCD Array Process Inspection using Kernel FCM-based Fuzzy SVDD / Expert Systems with Applications 36 (2) : 1978 ~ 1998 google schola

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